Report
CVE-2024-43050 Hoch

Qualcomm: Memory Corruption durch Factory-Test-IOCTL-Kommandos im WLAN-Treiber

Kennzahlen

CVSS-Basiswert
7.8
Veröffentlicht
Aktualisiert
Quelle
NVD

Beschreibung

In Qualcomm-Komponenten kann es zu einer Speicherbeschädigung kommen, wenn aus dem User-Space per IOCTL Factory-Test-Kommandos an den WLAN-Treiber abgesetzt werden. Laut CVSS-Vektor ist die Lücke lokal mit niedrigen Rechten und ohne Benutzerinteraktion ausnutzbar und gefährdet Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit in hohem Mass. CVSS-Basiswert: 7.8 (Hoch).

Changelog

  1. 2026-07-27 · zuletzt

    • Report neu erstellt.

Automatisch aus dem Vergleich der Datenstände erzeugt (CVSS, Schweregrad, KEV-Status, Ransomware, betroffene Produkte, EPSS-Sprünge ab 5 Prozentpunkten). Nicht redaktionell verfasst.

Betroffene Produkte

Quellen und Referenzen

Weitere Schwachstellen in Qualcomm

Alle Reports zu Qualcomm

Feed folgen, kostenlos

Priorisierte Schwachstellen per RSS sofort verfolgen, frei zugänglich und ohne Anmeldung. Zustellung per E-Mail, Webhook, REST oder TAXII auf Anfrage.

RSS-Feed öffnen Zustellung anfragen

Über diesen Report

  • Priorisierung nach KEV-Status, EPSS-Score und CVSS-Basiswert.
  • Stündliche Aktualisierung durch die Threat-Intelligence-Pipeline.
  • NIS2/CRA-relevante Produkte im DACH-Markt.